1.Disseny integrat de microscopi metal·logràfic òptic i microscopi de força atòmica, funcions potents

2. Té funcions d'imatge de microscopi òptic i microscopi de força atòmica, ambdues poden funcionar alhora sense afectar-se mútuament

3.Al mateix temps, té les funcions de mesura òptica bidimensional i de mesura tridimensional del microscopi de força atòmica

4. El capçal de detecció làser i l'etapa d'escaneig de mostres estan integrats, l'estructura és molt estable i l'anti-interferència és forta

5. Dispositiu de posicionament de la sonda de precisió, l'ajust de l'alineació del punt làser és molt fàcil

6. La mostra d'accionament d'un sol eix s'acosta automàticament a la sonda verticalment, de manera que la punta de l'agulla s'escaneja perpendicularment a la mostra

7. El mètode intel·ligent d'alimentació d'agulla de la detecció automàtica de ceràmica piezoelèctrica a pressió controlada per motor protegeix la sonda i la mostra

8. Sistema de posicionament òptic de gran augment per aconseguir un posicionament precís de la sonda i l'àrea d'escaneig de mostres

9. Editor d'usuari de correcció no lineal d'escàner integrat, caracterització nanomètrica i precisió de mesura millor que el 98%

Especificacions: