1. Disseny integrat del microscopi metal·logràfic òptic i del microscopi de força atòmica, potents funcions

2.it té funcions d’imatge del microscopi òptic i de la força atòmica, ambdues que poden funcionar alhora sense afectar -se les unes a les altres

3. A la vegada, té les funcions de la mesura bidimensional òptica i la mesura de força atòmica Microscopi tridimensional

4. El cap de detecció del làser i l’etapa d’escaneig de la mostra s’integren, l’estructura és molt estable i l’anti-interferència és forta

5. Dispositiu de posicionament de la sonda de precisió, l’ajust de l’alineació del punt làser és molt fàcil

6. La mostra de la unitat d’un sol eix s’acosta automàticament a la sonda verticalment, de manera que la punta de l’agulla es escaneja perpendicular a la mostra

7. El mètode intel·ligent d’alimentació d’agulla de la detecció automàtica piezoelèctrica de ceràmica a pressió controlada per motor protegeix la sonda i la mostra

8. Sistema de posicionament òptic de magnificació ultra-alta per aconseguir un posicionament precís de la sonda i la zona d’exploració de mostres

9. Escàner integrat de correcció no lineal Editor d'usuaris, caracterització del nanòmetre i precisió de la mesura superior al 98%

Especificacions: