1. Disseny integrat del microscopi metalogràfic òptic i del microscopi de força atòmica, potents funcions

2. Té funcions d'imatge del microscopi òptic i de la força atòmica, ambdues que poden funcionar alhora sense afectar -se les unes a les altres

3. Pot funcionar en un entorn d’aire ordinari, entorn líquid, entorn de control de temperatura i entorn de control de gas inert alhora

4. La taula d’escaneig d’exemple i el cap de detecció del làser estan dissenyats de tipus tancat, i es pot omplir i descarregar gas especial a l’interior, sense afegir una coberta de segellat

5. La detecció del làser adopta un disseny de ruta òptica vertical i pot funcionar sota líquid amb el suport de la sonda de doble propòsit de gas-líquid

6. La mostra de la unitat d’un sol eix s’acosta automàticament a la sonda verticalment, de manera que la punta de l’agulla es escaneja perpendicular a la mostra

7. El mètode intel·ligent d’alimentació d’agulla de la detecció automàtica piezoelèctrica de ceràmica a pressió controlada per motor protegeix la sonda i la mostra

8. Sistema de posicionament òptic de magnificació ultra-alta per aconseguir un posicionament precís de la sonda i la zona d’exploració de mostres

9. Escàner integrat de correcció no lineal Editor d'usuaris, caracterització del nanòmetre i precisió de la mesura superior al 98%

Especificacions: